Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy

Name: Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780470518519
Price: 66.39 EUR
Availability: InStock

Автор: Rik Brydson

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: John Wiley & Sons Inc

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 9-15 дни

66.39 € 129.84 лв

The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron micros...

Информация за книгата

Автор

Rik Brydson

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

2011

страници

296

EAN

9780470518519

ISBN

0470518510

Enbook ID

01388456

Издател

John Wiley & Sons Inc

Теглоt

580

Размери

164 x 240 x 20

Пълно описание

The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corrected STEM in materials science and biology. This book is essential for microscopists involved in nanoscale and materials microanalysis especially those using scanning transmission electron microscopy, and related analytical techniques such as electron diffraction x-ray spectrometry (EDXS) and electron energy loss spectroscopy (EELS).

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също