Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489983145
Price: 104.04 EUR
Availability: InStock

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Автор: Girard, Patrick, PH.

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 10-18 дни

104.04 € 203.48 лв

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR...

Информация за книгата

Автор

Girard, Patrick, PH.

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2014

страници

171

EAN

9781489983145

ISBN

9781489983145

Enbook ID

09062252

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

297

Размери

155 x 235 x 235

Пълно описание

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също