Advances in X-Ray Analysis

Name: Advances in X-Ray Analysis
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9780306442490
Price: 99.64 EUR
Availability: InStock

Volume 35B

Автор: C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: Springer, Berlin

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 10-18 дни

99.64 € 194.89 лв

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PI...

Информация за книгата

Автор

C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

2012

страници

640

EAN

9780306442490

Enbook ID

01377984

Издател

Springer, Berlin

Теглоt

2760

Размери

175 x 250 x 41

Пълно описание

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PICXAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held in Hilo and Honolulu Hawaii, August 1991, comprise reports on the latest develo

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Advances in X-Ray Analysis

Volume 35B

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също