Advances in X-Ray Analysis
Автор:
C. S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G. J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith
Наличност:
Външен склад
Изпращаме след 5-8 дни
52.70
€
103.07 лв
