Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Name: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489986306
Price: 105.0 EUR
Availability: InStock

Автор: Elie Maricau, Georges Gielen

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 5-8 дни

105.00 € 205.36 лв

This book covers modeling, simulation and analysis of analog circuit aging, nanometer CMOS physical...

Информация за книгата

Автор

Elie Maricau, Georges Gielen

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2015

страници

198

EAN

9781489986306

ISBN

1489986308

Enbook ID

09479806

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

3343

Размери

155 x 235 x 11

Пълно описание

This book covers modeling, simulation and analysis of analog circuit aging, nanometer CMOS physical effects resulting in unreliability, transistor aging compact models for circuit simulation, methods for efficient circuit reliability simulation and more.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също