Книга Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H. Cohen

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Език: Английски език
Корици: С меки корици
Наличност: Външен склад
Изпращаме след 5-8 дни
157.37 307.80 лв
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Информация за книгата

Език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Издадена
2013
страници
250
EAN
9781475793277
ISBN
1475793278
Enbook ID
02254276
Теглоt
507
Размери
178 x 254 x 15

Пълно описание

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Може също да ви хареса

Giant Otter

Jessica Groenendijk
40.92 80.02 лв
114.30 223.56 лв

The Green Witch

Arin Murphy-Hiscock
12.75 24.94 лв
33.26 65.05 лв

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Pakiet 100 lat sztuki polskiej

Stefania Krzysztofowicz-Kozakowska
40.32 78.85 лв
106.20 207.71 лв
27.41 53.61 лв
60.73 118.77 лв