Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3

Name: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781475781847
Price: 178.17 EUR
Availability: InStock

Автор: Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад в ограничено количество

Изпращаме след 13-18 дни

178.17 € 348.47 лв

This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposi...

Информация за книгата

Автор

Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2013

страници

210

EAN

9781475781847

ISBN

1475781849

Enbook ID

02254200

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

426

Размери

178 x 254 x 13

Пълно описание

This proceedings is based on the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium. The purpose of the meeting was to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies. The papers have been written by experts in probe microscopy from around the world, representing a wide range of disciplines, including physics, biotechnology, nanotechnology, chemistry, and materials science.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също