Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Name: Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780470638828
Price: 157.31 EUR
Availability: InStock

Автор: Greg Haugstad

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: John Wiley & Sons Inc

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 9-15 дни

157.31 € 307.67 лв

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface for...

Информация за книгата

Автор

Greg Haugstad

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

2012

страници

496

EAN

9780470638828

ISBN

0470638826

Enbook ID

01388618

Издател

John Wiley & Sons Inc

Теглоt

850

Размери

155 x 243 x 32

Пълно описание

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.§"Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също