Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Name: Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Brand: Springer Science+Business Media
SKU: 9780306458965
Price: 177.84 EUR
Availability: InStock

Автор: Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: Springer Science+Business Media

Наличност: Външен склад в ограничено количество

Изпращаме след 13-18 дни

177.84 € 347.83 лв

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b...

Информация за книгата

Автор

Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

1998

страници

430

EAN

9780306458965

ISBN

0306458969

Enbook ID

01378961

Издател

Springer Science+Business Media

Теглоt

1790

Размери

156 x 234 x 25

Пълно описание

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също