Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)

Name: Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9783642201189
Price: 226.96 EUR
Availability: InStock

Автор: Yonghua Rong

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: Springer, Berlin

Наличност: 50% вероятност

Ще претърсим света

226.96 € 443.89 лв

"Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)" describes the basic co...

Информация за книгата

Автор

Yonghua Rong

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

2011

страници

500

EAN

9783642201189

Enbook ID

01657685

Издател

Springer, Berlin

Теглоt

998

Размери

155 x 235 x 36

Пълно описание

"Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)" describes the basic concepts and operative techniques of AEM. It focuses on the study of phase transformations and dislocation in deformation by AEM. Further, the book also presents the physical concepts and mathematic analysis for diffraction and crystallography using numerous examples, such as the quantitative prediction of the orientation relationships in phase transformations. §The book is intended for researchers and graduate students in materials science, engineering, and condensed matter physics.§Yonghua Rong is a professor at the School of Materials Science and Engineering, Shanghai Jiao Tong University, China.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също