CTL for Test Information of Digital ICs

Name: CTL for Test Information of Digital ICs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781475778007
Price: 116.09 EUR
Availability: InStock

Автор: Rohit Kapur

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад в ограничено количество

Изпращаме след 13-18 дни

116.09 € 227.04 лв

From the reviews: "[ ] a welcome addition to the literature. [ ] This book promises to make a valuab...

Информация за книгата

Автор

Rohit Kapur

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2013

страници

173

EAN

9781475778007

ISBN

1475778007

Enbook ID

02181748

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

296

Размери

155 x 10 x 11

Пълно описание

From the reviews: "[ ] a welcome addition to the literature. [ ] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability§

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

CTL for Test Information of Digital ICs

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също