Data Mining and Diagnosing IC Fails

Name: Data Mining and Diagnosing IC Fails
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9780387249933
Price: 105.41 EUR
Availability: InStock

Автор: Leendert M. Huisman

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 10-13 дни

105.41 € 206.16 лв

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maxim...

Информация за книгата

Автор

Leendert M. Huisman

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

2005

страници

250

EAN

9780387249933

ISBN

9780387249933

Enbook ID

07184089

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

576

Размери

155 x 235 x 19

Пълно описание

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Data Mining and Diagnosing IC Fails

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също