Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Name: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9780387465463
Price: 210.52 EUR
Availability: InStock

Автор: Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 10-13 дни

210.52 € 411.75 лв

The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms...

Информация за книгата

Автор

Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

2007

страници

328

EAN

9780387465463

ISBN

0387465464

Enbook ID

01382200

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

694

Размери

155 x 235 x 24

Пълно описание

The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without the insight into the physics of nano-metric technologies, it would be hard to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. Obviously, the work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също