Electromigration and Electronic Device Degradation

Name: Electromigration and Electronic Device Degradation
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780471584896
Price: 259.6 EUR
Availability: InStock

Автор: Christou

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: John Wiley & Sons Inc

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 10-18 дни

259.60 € 507.74 лв

Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the...

Информация за книгата

Автор

Christou

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

1994

страници

344

EAN

9780471584896

ISBN

0471584894

Enbook ID

04892340

Издател

John Wiley & Sons Inc

Теглоt

656

Размери

164 x 239 x 25

Пълно описание

Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the metal atoms to migrate away from a high current density point and leads to the failure of integrated circuits. It is therefore an important reliability issue. This study reviews the topic for both the silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details, including an investigation of temperature dependence.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Electromigration and Electronic Device Degradation

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също