Electromigration

Name: Electromigration
Brand: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.
SKU: 9783639088137
Price: 49.98 EUR
Availability: InStock

Studied with the Optical Microscopy Imaging Method

Автор: Linghong Li

Език:

Корици: С меки корици

Издател: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 9-15 дни

49.98 € 97.74 лв

Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §...

Информация за книгата

Автор

Linghong Li

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2008

страници

EAN

9783639088137

ISBN

3639088131

Enbook ID

06817951

Издател

VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

Теглоt

113

Размери

152 x 229 x 4

Пълно описание

Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §very relevant to damage in interconnections. A §common method for monitoring interconnection §degradation is through electrical resistance §measurements, which requires direct electrical §contact. It is desirable to develop non-contact §methods to monitor electromigration damage §formation. In this thesis, we propose a novel §Optical Microscopy Imaging Method (OMIM), and we §provide a theoretical description and experimental §results. OMIM not only provides a new method for §studying electromigration, but also provides a §useful method for studying other micro-devices and §materials in a non- contact mode.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Electromigration

Studied with the Optical Microscopy Imaging Method

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също