Electron Beam Testing Technology

Name: Electron Beam Testing Technology
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489915245
Price: 168.0 EUR
Availability: InStock

Автор: John T.L. Thong

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 5-8 дни

168.00 € 328.58 лв

This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including i...

Информация за книгата

Автор

John T.L. Thong

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2013

страници

462

EAN

9781489915245

ISBN

1489915249

Enbook ID

02254694

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

905

Размери

178 x 254 x 26

Пълно описание

This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including introductory material, a guide to fundamentals, and an implementational section, the work will serve as a complete reference for both experienced practitioners as well as those unfamiliar with the technology.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Electron Beam Testing Technology

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също