Estudo e simulacao de ruido em transistores

Name: Estudo e simulacao de ruido em transistores
Brand: Novas Edicoes Academicas
SKU: 9786130153908
Price: 50.24 EUR
Availability: InStock

Автор: Varela Della Giustina Rafael

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Novas Edicoes Academicas

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A reduçăo das dimensőes dos dispositivos semicondutores para escalas submicrométricas impőe diversos...

Информация за книгата

Автор

Varela Della Giustina Rafael

Език

Португалски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2015

страници

116

EAN

9786130153908

ISBN

9786130153908

Enbook ID

09878998

Издател

Novas Edicoes Academicas

Теглоt

181

Размери

152 x 229 x 7

Пълно описание

A reduçăo das dimensőes dos dispositivos semicondutores para escalas submicrométricas impőe diversos desafios no projeto de circuitos integrados. O impacto das variaçőes intrínsecas afetando parâmetros elétricos cresce em importância ŕ medida que a área dos dispositivos adentra a faixa nanométrica. Dentre essas variaçőes estăo flutuaçőes nas tensőes e correntes de terminal causadas pelas diferentes formas de ruído intrínseco dos dispositivos MOS. Este trabalho apresenta um estudo sobre o impacto do ruído elétrico no desempenho de circuitos MOS. Um novo modelo para simulaçăo do Random Telegraph Signal (RTS) no domínio do tempo é utilizado. Uma metodologia de simulaçăo para contabilizar o ruído térmico em simulaçőes transientes também é proposta. A partir desses modelos de simulaçăo de dispositivos, o trabalho de pesquisa analisa o impacto da variabilidade de parâmetros elétricos em nível de circuito. As simulaçőes focam na caracterizaçăo da pureza espectral em osciladores em anel de sinal diferencial. Diversas topologias săo apresentadas e posteriormente comparadas em termos do jitter no período de oscilaçăo.

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