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La diffraction cohérente des rayons X est une technique relativement récente, qui permet de réaliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matičre dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace réel ŕ l'aide d'algorithmes basés sur des calculs de transformée de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut ętre appliquée ŕ l'étude de défauts de phase isolés tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent ętre reconstruits sans algorithme. Il apparaît que la technique peut en principe surpasser en résolution la topograhie X, technique de choix pour les études de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi été imagées. Nous montrons également que de réelles conclusions physiques peuvent ętre tirées, ŕ travers l'étude de défauts de phase de structures électroniques dans des systčmes développant des ondes de densité de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdčne K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systčmes étudiés dans ce travail. Un certain nombre de questions liées ŕ la structure statique et dynamique de ces cristaux électroniques sont soulevées, et des modčles théoriques sont proposés.
