Lifetime Spectroscopy

Name: Lifetime Spectroscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642064531
Price: 228.56 EUR
Availability: InStock

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Автор: Stefan Rein

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 10-18 дни

228.56 € 447.02 лв

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analy...

Информация за книгата

Автор

Stefan Rein

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2010

страници

492

EAN

9783642064531

ISBN

3642064531

Enbook ID

01651701

Издател

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Теглоt

874

Размери

155 x 28 x 32

Пълно описание

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Lifetime Spectroscopy

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също