Книга Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338 Peter BJohn C. CoburnWilliam F. FilterJohn E. Sanchez

Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338

Език: Английски език
Корици: С твърди корици
Издател: Materials Research Society
Наличност: Очаква се допечатка
Срокът не е известен
27.36 53.51 лв
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...

Информация за книгата

Език
Английски език
Корици
Книга - С твърди корици
Издадена
1994
страници
629
EAN
9781558992382
ISBN
1558992383
Enbook ID
02060018
Теглоt
1045
Размери
160 x 231 x 38

Пълно описание

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Може също да ви хареса

6.32 12.36 лв
315.62 617.31 лв

ISE Physical Geology

Charles (Carlos) Plummer
84.20 164.68 лв
45.84 89.65 лв
18.72 36.62 лв
10.69 20.91 лв
82.09 160.55 лв

Seabrook Farms

Cheryl L. Baisden
21.49 42.02 лв
15.86 31.02 лв
18.02 35.25 лв
73.00 142.78 лв
42.83 83.76 лв

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

100.47 196.50 лв
19.68 38.49 лв

Medium

Emmanuelle Tassy-Bunyan
17.62 34.46 лв
50.31 98.39 лв
136.72 267.40 лв

Mein Lesetagebuch

Noëmi Caruso
9.38 18.35 лв