Книга MOS Interface Physics, Process and Characterization Shengkai Wang

MOS Interface Physics, Process and Characterization

Език: Английски език
Корици: С меки корици
Издател: Taylor & Francis Ltd
Наличност: Външен склад
Изпращаме след 9-15 дни
69.86 136.63 лв
The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important compo...

Информация за книгата

Език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Издадена
2024
страници
162
EAN
9781032106281
Enbook ID
44702474
Издател
Теглоt
453
Размери
152 x 229

Пълно описание

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

Може също да ви хареса

202.62 396.29 лв
19.04 37.24 лв
40.19 78.60 лв

New Chapter Tarot

Kathryn Briggs
25.00 48.90 лв
42.55 83.21 лв
101.33 198.19 лв

Survivors

Jeff Probst
9.27 18.12 лв
13.68 26.75 лв
54.02 105.66 лв
17.24 33.71 лв

Bloodfever

Karen Marie Moning
7.06 13.81 лв
12.37 24.20 лв

House by the Church-Yard

J Sheridan Le Fanu
22.55 44.10 лв

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

57.93 113.30 лв
11.92 23.32 лв
57.93 113.30 лв
154.11 301.41 лв
19.59 38.32 лв