Multi-Chip Module Test Strategies

Name: Multi-Chip Module Test Strategies
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461377986
Price: 105.11 EUR
Availability: InStock

Автор: Yervant Zorian

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 5-8 дни

105.11 € 205.57 лв

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physica...

Информация за книгата

Автор

Yervant Zorian

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2012

страници

167

EAN

9781461377986

ISBN

9781461377986

Enbook ID

06623159

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

369

Размери

195 x 260 x 10

Пълно описание

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. §Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. §Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2). §

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Multi-Chip Module Test Strategies

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също