Книга Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light Pierre-Richard Dahoo

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Език: Английски език
Корици: С твърди корици
Наличност: Външен склад в ограничено количество
Изпращаме след 11-15 дни
170.54 333.54 лв
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors presen...

Информация за книгата

Език
Английски език
Корици
Книга - С твърди корици
Издадена
2016
страници
316
EAN
9781848219366
ISBN
1848219369
Enbook ID
13595194
Теглоt
618
Размери
167 x 241 x 24

Пълно описание

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Може също да ви хареса

71.07 139.00 лв
48.10 94.07 лв
18.04 35.28 лв
11.81 23.09 лв
14.47 28.30 лв

Automated Reasoning

Viorica Sofronie-Stokkermans
95.60 186.97 лв
141.03 275.84 лв
13.82 27.02 лв
18.89 36.95 лв

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Parménides

César Aira
19.70 38.53 лв
26.13 51.11 лв