Noncontact Atomic Force Microscopy

Name: Noncontact Atomic Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642627729
Price: 209.92 EUR
Availability: InStock

Автор: E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 5-8 дни

209.92 € 410.56 лв

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based...

Информация за книгата

Автор

E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2012

страници

440

EAN

9783642627729

ISBN

9783642627729

Enbook ID

06617965

Издател

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Теглоt

692

Размери

155 x 235 x 25

Пълно описание

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Noncontact Atomic Force Microscopy

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също