Quantitative X-Ray Diffractometry

Name: Quantitative X-Ray Diffractometry
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461395379
Price: 105.43 EUR
Availability: InStock

Автор: Giora Kimmel

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 5-8 дни

105.43 € 206.21 лв

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray dif...

Информация за книгата

Автор

Giora Kimmel

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2011

страници

372

EAN

9781461395379

ISBN

9781461395379

Enbook ID

06624110

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

681

Размери

170 x 244 x 22

Пълно описание

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Quantitative X-Ray Diffractometry

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също