Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Name: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781493982691
Price: 103.25 EUR
Availability: InStock

Автор: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag New York Inc.

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 8-11 дни

103.25 € 201.94 лв

This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a...

Информация за книгата

Автор

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2018

страници

550

EAN

9781493982691

ISBN

9781493982691

Enbook ID

22289975

Издател

Springer-Verlag New York Inc.

Теглоt

1498

Размери

277 x 209 x 33

Пълно описание

This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, elec

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също