Книга Semiconductor Characterization Techniques

Semiconductor Characterization Techniques

Език: Английски език
Корици: С меки корици
Издател: OmniScriptum
Наличност: Външен склад
Изпращаме след 8-11 дни
124.19 242.90 лв

Информация за книгата

Език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Издадена
2026
страници
72
EAN
9786138759232
ISBN
6138759230
Enbook ID
52733908
Издател
Теглоt
125
Размери
150 x 220 x 5

Пълно описание