Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization

Name: Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization
Brand: CAB INTL
SKU: 9781606507278
Price: 36.62 EUR
Availability: InStock

Автор: Harland G. Tompkins, James N. Hilfiker

Език:

Корици: С меки корици

Издател: CAB INTL

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 9-15 дни

36.62 € 71.63 лв

Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of th...

Информация за книгата

Автор

Harland G. Tompkins, James N. Hilfiker

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2015

страници

194

EAN

9781606507278

ISBN

1606507273

Enbook ID

12371619

Издател

CAB INTL

Теглоt

268

Размери

152 x 229 x 10

Пълно описание

Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the ca

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също