Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Name: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642433153
Price: 87.57 EUR
Availability: InStock

Автор: Brent Fultz, James M. Howe

Език:

Корици: С меки корици

Издател: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Наличност: Външен склад

Изпращаме след 5-8 дни

87.57 € 171.26 лв

This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are imp...

Информация за книгата

Автор

Brent Fultz, James M. Howe

Език

Английски език

Корици

Книга - С меки корици

Издадена

2012

страници

764

EAN

9783642433153

ISBN

3642433154

Enbook ID

09090362

Издател

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Теглоt

1154

Размери

156 x 237 x 44

Пълно описание

This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също