Книга VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability Laung-Terng Wang

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Език: Английски език
Корици: С меки корици
Издател: MORGAN KAUFMANN PUBL INC
Наличност: 50% вероятност
Ще претърсим света
97.25 190.21 лв

Информация за книгата

Език
Английски език
Корици
Книга - С меки корици
Издадена
2006
страници
808
EAN
9781493300860
ISBN
1493300865
Enbook ID
12234203
Издател

Пълно описание

Може също да ви хареса

38.14 74.59 лв
15.26 29.85 лв
18.37 35.92 лв
12.41 24.27 лв
43.54 85.16 лв
26.02 50.90 лв
14.01 27.40 лв
19.47 38.07 лв
14.56 28.48 лв
84.19 164.66 лв
22.37 43.75 лв

Megalithic Temples

A.J. Kingston
37.94 74.20 лв

Release Me

Tahereh Mafi
10.61 20.74 лв
7.45 14.58 лв

Janelle's Pocket Posh Journal, Mum

Andrews McMeel Publishing
7.45 14.58 лв
50.90 99.56 лв

Just So Stories

Rudyard Kipling
8.45 16.54 лв
8.20 16.05 лв
9.91 19.37 лв

Psalms

Longman
25.22 49.33 лв

Hustlers

Douglas Thompson
13.81 27.01 лв

Phenomenology and Logic

Bernard Lonergam
42.69 83.50 лв
57.91 113.26 лв

Saved By Love

Dexter Nunnery
15.96 31.22 лв

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

23.57 46.10 лв
11.46 22.41 лв
13.71 26.82 лв
15.61 30.54 лв

???????

??????????
6.70 13.11 лв
22.22 43.46 лв
10.01 19.57 лв
32.48 63.53 лв
8.70 17.02 лв
13.36 26.13 лв
5.70 11.15 лв
37.84 74.00 лв

Cris

Laurent Gaudé
8.60 16.83 лв
260.54 509.57 лв

14

Jean Echenoz
19.17 37.49 лв
15.61 30.54 лв
17.01 33.28 лв
7.65 14.97 лв

Geschichte der Stadt Rom

Alfred Von Reumont
40.14 78.51 лв