Scanning Electron Microscopy

Name: Scanning Electron Microscopy
Brand: NY RESEARCH PRESS
SKU: 9781632384065
Price: 128.99 EUR
Availability: InStock

Автор: Lisa Page

Език:

Корици: С твърди корици

Издател: NY RESEARCH PRESS

Наличност: 50% вероятност

Ще претърсим света

128.99 € 252.28 лв

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments empl...

Информация за книгата

Автор

Lisa Page

Език

Английски език

Корици

Книга - С твърди корици

Издадена

2015

страници

292

EAN

9781632384065

ISBN

163238406X

Enbook ID

12434612

Издател

NY RESEARCH PRESS

Теглоt

572

Размери

236 x 162 x 23

Пълно описание

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Най-често търсени

Categories

Authors

Publishers

Продукти

Продукти

Scanning Electron Microscopy

Информация за книгата

Пълно описание

Може също да ви хареса

Клиенти, които купиха тази книга, купиха също